2023년 2월 1일~3일까지 열리는 세미콘 코리아에서 당사는
초정밀도 Ultra Fine JIG, Probe Card 전시 및 IGBT 검사장치를 소개해드릴 예정입니다.
고객의 요구에 맞춘 다양한 검사솔루션을 제안해 드리겠습니다.
당사의 부스에 방문해주세요.
주요전시내용
・IGBT/SiC 모듈 절연/정특성/동특성 검사장비「NATS-1000」
・Ultra Fine JIG
・MEMS용 Probe Card
・CMOS Image Sensor용 Probe Card
출전개요
| 전시기간 | 2023년 2월 1일(수)～3일(금) |
|---|---|
| 전시장소 |
COEX |
| 전시부스 |
B634 |
| 공식사이트 |
